МОДЕЛИРОВАНИЕ КОЭФФИЦИЕНТА КОМПАКТНОСТИ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ ФЛЮОРИТА

Аннотация

Значение коэффициента компактности кристаллической решетки играет важную роль при определении ее структурных параметров: межъядерного расстояния и постоянной решетки, в свою очередь это является необходимым условием при формировании геометрической модели атомного каркаса элементарной ячейки кристалла. В настоящее время значение коэффициента, определяется аналитическим методом и однозначно найдено для весьма незначительного типа кристаллических структур [1]. Данная ситуация обусловлена тем что, практическая значимость коэффициента компактности заключается в определении структурных параметров кристаллов, а эти параметры можно определить на базе дифракционных методов (рентгеновский структурный анализ, электронография и нейтронография), а также микроволновой спектроскопии [2]. Таким образом, предложенный теоритический метод расчета коэффициента компактности, является альтернативой существующим экспериментальным. Но стоит отметить, что экспериментальные методы, являются весьма не точными, сложными и дорогостоящими, применение предложенного численного метода позволяет избавиться от данных недостатков. Основная идея метода заключается в применении способа компактного описания кристаллической структуры и алгоритма численного расчета.