МИКРОСТРУКТУРНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ПЛАТ ИЗ НИТРИДА АЛЮМИНИЯ РАЗЛИЧНЫХ ПРОИЗВОДИТЕЛЕЙ
Аннотация
Ключевые слова
Литература
Добрынин А.В., Казаков Н.П.,. Найда Г.А, Подденежный Е.Н. и др. Нитрид алюминия в электронной технике // Ж. «Зарубежная электронная техника», 1989, № 4.
Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Под ред. Морис Ф., Мени Л., Тиксье Р. Франция, 1978: пер. с франц.: М.: Металлургия, 1985. 392 с.
Никифорова-Денисова С.Н. Технология полупроводниковых приборов и изделий микроэлектроники // Книга 4. Механическая и Химическая обработка. М.:Высш.шк., 1989. 95 с.: ил.
Кузовков А.В., Тюлькова А.А., Боброва Ю.С. Планаризация подложек из нитрида алюминия. [Электронный ресурс] // Труды Всероссийской научно-технической конференции «Студенческая весна 2014: Машиностроительные технологии». М.: МГТУ им. Н.Э Баумана. № гос. регистрации 0321400749. URL: studvesna.ru?go=articles&id=958 (дата обращения: 27.07.2015). Загл. с экрана.
Эдельман В.С. Сканирующая туннельная микроскопия // Приборы и техника эксперимента, 1989, № 5, С. 25-49.
Binnig G., Quate C.F., Gerber Ch. Atomic force microscope // Phys. Rev. Lett., v. 56, № 9, p. 930 – 933 (1986).
DOI: https://doi.org/10.12731/wsd-2015-8-18
Ссылки
- На текущий момент ссылки отсутствуют.
(c) 2016 В мире научных открытий
ISSN 2658-6649 (print)
ISSN 2658-6657 (online)