АЛГОРИТМЫ ПОДСТРОЙКИ МОДЕЛЕЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ ДЛЯ ОБЕСПЕЧЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ КАЧЕСТВА ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
Аннотация
Ключевые слова
Литература
Граничин О.Н. Введение в методы стохастической оптимизации и оценивания: учебное пособие. СПб: Изд-во Санкт-Петербургского университета, 2003. 131 с.
Дорошевич К.К., Попов В.Н., Стрижков С.А. Методика статистического контроля технологических процессов изготовления интегральных микросхем для партий малого объема при прерывистом производстве//Микроэлектроника. 2002. № 2. С. 152-160.
Коледов Л.А. Технология и конструкции микросхем, микропроцессоров и микросборок. СПб.: Лань, 2007. 400 с.
Маклафлин Б. Объектно-ориентированный анализ и проектирование. СПб.: Питер, 2013. 608 с.
Моделирование систем/Дворецкий С.И., Муромцев Ю.Л., Погонин В.А., Схиртладзе А.Г. М.: Академия, 2009. 320 с.
Панфилов Ю.В., Рябов В.Т., Цветков Ю.Б. Оборудование производства интегральных микросхем и промышленные роботы. М.: Радио и связь, 1988. 320 с.
Салеев Д.В. Алгоритм управления качеством технологического процесса производства интегральных микросхем//Вестник воронежского института высоких технологий. 2012. №10. С. 33-37.
Салеев Д.В. Контроль качества и оценка надежности интегральных схем/Д.В. Салеев//Вестник воронежского института высоких технологий. 2012. № 9. С. 20-24.
Черноруцкий И.Г. Методы оптимизации. Компьютерные технологии. СПб.: БХВ-Петербург, 2011. 384 с.
Эйкхофф П. Основы идентификации систем управления. Оценивание параметров и состояния. М.: Мир, 1975. 681 с.
DOI: https://doi.org/10.12731/wsd-2014-6.1-15
Ссылки
- На текущий момент ссылки отсутствуют.
(c) 2016 В мире научных открытий
ISSN 2658-6649 (print)
ISSN 2658-6657 (online)