МИКРОСТРУКТУРНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ПЛАТ ИЗ НИТРИДА АЛЮМИНИЯ РАЗЛИЧНЫХ ПРОИЗВОДИТЕЛЕЙ

Sergey Zinovevich Puryzhinsky, Dmitry Vladimirovich Pebalk, Anton Yurevich Kalashnikov


Аннотация


Данная статья представляет визуализацию зависимости качества поверхности пластин из нитрида алюминия от места ее производства и метода поверхностной обработки. Представленные изображения сканирования поверхности пластин, сделанные при помощи современных методик, на оборудовании позволяющем изучить структуру поверхности, показывают наиболее полную картину расположения и строения поверхностных дефектов пластин, в первую очередь обусловленных технологиями их изготовления. С другой стороны, данные исследований выявляют зависимости образования дефектов поверхности, таких как «вырывания зерен», конгломераты и краевые эффекты от методов механической и финишной обработки поверхности. Так же в статье выработаны, варианты дальнейшего использования пластин нитрида алюминия с различным качеством и параметрами чистоты поверхности и рекомендации к способам подготовки рабочей поверхности. Так, например, становится понятно, что некоторые типы пластин нитрида алюминия могут использоваться после обработки веществами различного типа, имеющими планаризирующее воздействие на поверхность.

Ключевые слова


нитрид алюминия; поверхность пластин; класс чистоты поверхности

Литература


Добрынин А.В., Казаков Н.П.,. Найда Г.А, Подденежный Е.Н. и др. Нитрид алюминия в электронной технике // Ж. «Зарубежная электронная техника», 1989, № 4.

Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Под ред. Морис Ф., Мени Л., Тиксье Р. Франция, 1978: пер. с франц.: М.: Металлургия, 1985. 392 с.

Никифорова-Денисова С.Н. Технология полупроводниковых приборов и изделий микроэлектроники // Книга 4. Механическая и Химическая обработка. М.:Высш.шк., 1989. 95 с.: ил.

Кузовков А.В., Тюлькова А.А., Боброва Ю.С. Планаризация подложек из нитрида алюминия. [Электронный ресурс] // Труды Всероссийской научно-технической конференции «Студенческая весна 2014: Машиностроительные технологии». М.: МГТУ им. Н.Э Баумана. № гос. регистрации 0321400749. URL: studvesna.ru?go=articles&id=958 (дата обращения: 27.07.2015). Загл. с экрана.

Эдельман В.С. Сканирующая туннельная микроскопия // Приборы и техника эксперимента, 1989, № 5, С. 25-49.

Binnig G., Quate C.F., Gerber Ch. Atomic force microscope // Phys. Rev. Lett., v. 56, № 9, p. 930 – 933 (1986).




DOI: https://doi.org/10.12731/wsd-2015-8-18

Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.




(c) 2016 В мире научных открытий



ISSN 2658-6649 (print)

ISSN 2658-6657 (online)

HotLog Яндекс цитирования